光致衰减(LightInducedDegradation)的研究已经被大家所熟知。由于硅片中硼氧对复合、硼铁的分离,导致光伏组件运行的最初时间内,可能会发生超过3%的功率衰减,根据IEC61215-2:2016的初始稳定测试程序,可以评估此类现象。光注入、改进退火工艺等抗LID方案也投入了产业化应用。热辅助光致衰减(Lightand

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高效技术路线之下 如何评估光伏组件LeTID风险?

2020-03-17 08:21 来源: 摩尔光伏 

光致衰减

(Light Induced Degradation)的研究已经被大家所熟知。由于硅片中硼氧对复合、硼铁的分离,导致光伏组件运行的最初时间内,可能会发生超过3%的功率衰减,根据IEC 61215-2:2016的初始稳定测试程序,可以评估此类现象。光注入、改进退火工艺等抗LID方案也投入了产业化应用。

热辅助光致衰减

(Light and Elevated Temperature Induced Degradation)相比LID有着更缓慢的衰减速率,且主要发生在50℃以上的环境中。目前LeTID发生机理不够明确,可能与氢离子、金属杂质有关。

钝化发射极背表面接触太阳电池技术(PERC/PERT/PERL)市场份额于2019年达到50%,并会在未来十年内持续主导光伏市场。然而,这类太阳电池极易受到LID与LeTID的影响而导致实际输出功率衰减。

1.jpg

资料来源:ITRPV

测试标准

LeTID测试面临的困难

a.较低的施加电流或者测试温度可能会导致LeTID发生速率过低,短周期测试无法探测衰减结果。

b.较高的施加电流或者测试温度可能导致过快的功率恢复,会抵消LeTID的衰减,使测试衰减被低估。

TüV北德推出P12.4-AA-06 LeTID测试程序

a.初始稳定性测试后,测试组件初始功率Pinitial。

b.将组件连接到电流源,放入到环境箱中,加热组件到75°C后,然后施加 Isc和Impp差值的电流,维持162h (+8/-0h)。

c.待组件冷却至25°C后,测试功率。

d.重复b, c直到

-连续两轮环境箱后测试功率衰减小于1%

-或者最后一轮测量的功率比上一轮后的功率升高

e.每块进行以下公式的判定:

Pfinal ≥ 0.95 x Pinitialx (1−𝑟)

    2.jpg

在考虑可重复性的前提下,如果不满足该公式,则测试样品被认定为LeTID敏感性组件。

数据分享

从TüV北德相关LeTID测试结果看,N型Topcon与PERT组件表现最好。另外同一厂家的测试衰减比较接近,可能是其相同的质量管理体系下,电池的缺陷控制水平较为一致。

3.jpg

TüV北德LeTID认证测试服务

当光伏组件经过TüV北德的专业测试,结果判定为LeTID不敏感类型的,将获得TüV北德颁发的LeTID证书。


原标题:高效技术路线之下 如何评估光伏组件LeTID风险?

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