本文主要了解，晶体硅光伏组件的电位诱发衰减(PID)之实验室对晶体硅光伏组件的PID测试和评估
目前在国际电工委员会(IEC)层面上，还没有出台有关实验室进行PID测试和评估的正式标准，该测试和评估的正式标准，该测试和评估标准正在研究和制定过程中，2011年11月TC82、WG2工作组形成了一个工作文件。下文基于该文件的内容，做一些相关的介绍。
1.样品要求
作为型式认可的试验样品，如果不确定PID发生的电压极性，则2中极性的偏置电压下，需分别进行试验；反之，则选用已知的PID发生的电压极性。对某个极性的试验包括2个组件（也可能需要一个附加的控制组件），样品应该按IEC60410的要求，从相同生产批次中抽取。
2.合格判定
在“电压耐久”结束后，按下列要求进行合格判定：
A）STC最大功率，与初始值想不，衰减不超过5%；
B）没有目测不合格现象（按IEC61215章节7；和IEC61730-2章节10.1.3）；
A）测试顺序中要求的湿漏电流试验，满足IEC61215章节10.15的要求；
B）试验结束后，组件的功能完整。
3.试验顺序
相关试验要求的说明：
1.试验组件需要通过电气绝缘性能良好的耐高温、高温的支架被放置在环境试验箱内；并主要所有与试验组件电路连通的部位与环境试验箱之间保持良好的绝缘性能；
2.试验组件的输出端被短接后，与提供试验用系统电压的电压输出端一极相连，极性按相关试验要求选择；
3.试验组件接地端子的连接要满足电气连接的安全要求，即有防松动、防腐蚀的措施。与提供试验用系统电压的电源输出端一极相连，极性与2中选择的极性相反；
4.“电压耐久”开始时，组件电路与金属边框之间，立即被接上试验系统电压；环境试验箱内的温度从不大于25℃开始爬升，爬升的速率为每分钟1℃，期间相对湿度控制在45-85%RH。
5.“电压耐久”试验结束后的湿漏电试验，在“电压耐久”试验结束的2h后，4h前完成。
