松下公司日前宣布，其生产的HIT太阳能电池模块已由德国弗劳恩霍夫硅光伏中心(Fraunhofer Center for Silicon Photovoltaics)确认不存在电位诱发衰减(potential induced degradation，PID)现象。
电位诱发衰减现象是指，在接地框架与太阳能电池单元之间存在外加电压的状态下，再加上高温高湿等外部因素，在这种情况下发生的输出下降现象。2012年6月，弗劳恩霍夫硅光伏中心公布了13家公司太阳能电池模块相关测试结果，由此太阳能电池行业加紧采取相应对策。不过，上述试验并未包括松下的HIT太阳能电池模块。
松下认为，普通结晶硅型太阳能电池产生电位诱发衰减现象的直接原因，是太阳能电池单元表面的绝缘层带电。而HIT太阳能电池单元表面采用的是透明导电膜，不采用绝缘层。因此弗劳恩霍夫硅光伏中心此次利用正负两种电压进行了试验。
具体而言，是使用10块HIT太阳能电池模块，在温度为50℃、相对湿度为50%、正负电压为1000伏的条件下。
